X-射线镀层测厚及金属分析仪-东莞市艾思荔检测仪器有限公司

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	金属分析仪	它还采用独一的焦距距离计算办法(DCM)，操作员现在可以随时改变焦距测量，对一些形状复杂的工件尤其方便。
	X-射线镀层测厚仪	它还采用独一的焦距距离计算办法(DCM)，操作员现在可以随时改变焦距测量，对一些形状复杂的工件尤其方便。
	X-谢线镀层测厚及金属分析仪/萤光X线膜厚计	FiScherSCOp® X—RAY System XDL® —B及XDLM® —C4是采用技术标准ASTM及B568，DIN60987， ISO 3497的X一射线荧光分析法来进行测量，下但可以测量金属层厚度及金属之间的比重，还可以进行金属物料分析。

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