半导体冷热冲击试验箱现货
更新时间:2023-10-20
半导体冷热冲击试验箱现货高程序记忆容量,可设定储存100组程序,大循环设定9999 Cycles,每段时间大设定999 Hrs 59Mins。采用进口微电脑大型液晶LCD(302240 Dots)中英文显示控制系统。
半导体冷热冲击试验箱现货使用于电子、汽车配件、塑胶等行业,测试各种材料对高、低温的反复抵拉力,试验出产品于热胀冷缩所产生的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的认同。 半导体冷热冲击试验箱特点 1)此设备分为高温区、低温区、测试区三部分,采用*之断热结构及蓄热、蓄冷效果,应用冷热风路切换方式导入试品中,做冷热冲击测试,待测品为不移动之方式。 2)采用原装日制微电脑大型液LCD(302*240 Dots)中英文显示控制系统。 3)高程序记忆容量,可设定储存100组程序,大循环设定9999 Cycles,每段时间大设定999 Hrs 59Mins。 4)具有RS-232C通信接口装置,可与计算机联机操控/编辑/记录及二组动态接点(Time Signal Relay),使用便捷。 5) 执行冷热冲击条件时,可选择2Zone或3Zone之功能。 6) 具备全自动,高精密系统回路、任一机件动作,*由P.L.C锁定处理。 7)机器故障时,配有自动机回路及警示号。 8) 发现输入电力不稳定时,具有紧急停机装置。 半导体冷热冲击试验箱可扩充: 1、温度记录器 2、LN2快速降温控制系统 3、RS-485通信接口装置,可与个人计算机同时进行局域网络联机监控及记录。可扩充:液态氮低温辅助系统 2、温度自动记录器 3、RS-485多机版局域网络联机监控及记录之软件。 半导体冷热冲击试验箱产品规格(mm) 型号:TS -80 工作室尺寸:H×W×D 400×500×400 外形尺寸: H×W×D 1500×1350×1470 型号:TS -100 工作室尺寸:H×W×D 450×500×450 外形尺寸: H×W×D 1550×1450×1550 型号:TS -150 工作室尺寸:H×W×D 500×600×500 外形尺寸: H×W×D 1600×1550×1920 型号:TS -252 工作室尺寸:H×W×D 600×700×600 外形尺寸: H×W×D 1700×1650×2170 型号:TS -480 工作室尺寸:H×W×D 750×800×800 外形尺寸: H×W×D 1850×1750×2270 半导体冷热冲击试验箱现货符合标准: GJB367.2-87 405温度冲击试验。 SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式 SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式 满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化 GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则 GB/T 2423.22-2002温度变化 QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则, EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估。 GB/T2423.1-2001低温试验方法; GB/T2423.2-2001高温试验方法; 如果您对以上半导体冷热冲击试验箱感兴趣或有疑问,请点击网页右侧的在线客服,或致电:/艾思荔仪器——您全程贴心的采购顾问。 |
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