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  • 触摸屏PCT高压加速老化试验箱生产厂家

    发布时间:2020-06-23

    触摸屏PCT高压加速老化试验箱详细介绍:触摸屏PCT高压加速老化试验箱壹叁伍叁捌肆陆玖零柒陆适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药线路板,多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测,相关之产品作加速寿命试验,使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的耐厌性,气密性。触摸屏PCT高压加速老化试验箱规格测试:规格:PCT-25、PCT-35、PCT-45、PCT-65内箱尺寸(W‧H‧D)cm):¢250×300

  • pct高压加速老化试验箱和自然老化的区别!

    发布时间:2020-05-22

    pct高压加速老化试验箱和自然老化测试结果间的相关性问题一直是业内关注的热点。一般来说,工业上要求快速地得出老化测试结果,同时要求实验室人工加速老化和自然老化测试结果间有较好的相关性,然而实际上这两个要求是相互矛盾的。pct高压加速老化试验箱方法使用比实际环境更高的测试温度、更短波长光源、更大的辐照强度,在加速材料老化进程的同时,降低了与自然条件材料老化结果的相关性。自然老化和pct高压加速老化试验箱各有自己的优势和不足,这也是一直是人们在研究的特征,在很多的地方需要用老化测试,由于生产的周期和

  • 冷热冲击试验机保养注意事项及方法

    发布时间:2020-04-21

    1.冷热冲击试验机的冷冻机组散热器,冷凝器,一定要定期做好保养,保持清洁、干净无灰尘,因为灰尘黏糊冷凝器会使压缩机高压开关跳闸而产生错误的报警,冷凝器应该要定制每月做好保养工作,利用真空吸尘器蒋冷凝器散热网片上附着吸尘器或者开机后使用硬的刷子进行清理灰尘。2.开关门或者从户内取测试样品时,不得让样品与门上的胶边接触,以防胶边受到破坏而缩短使用寿命。3.设备的机身周围和底部地面也要随时保持干净,以免大量的灰尘吸入机组内部产生性能上的降低。4.设备的冷冻系统是本机的核心价值部分,一般要求半年或者是3

  • pct高压加速老化试验箱发展史:从落后走向智能的历程

    发布时间:2020-03-19

    随着网络的发展给环境试验设备的发展带来了机遇,也带来了风险。在促进产业结构和技术升级,产品智能化与系统化趋势明显,应用范围进一步拓展。这使得技术创新成为企业生存与发展的主要动力,人才成为企业竞争的决定性因素。在研发环境试验设备思路上坚持做精中低端、走向中高端、探索新方向的大原则,重视国内和国外两个市场的产品研发。企业应通过转变传统思维方式和以产品制造为主的经营模式,完善企业运营机制和国际化进程、加强人才引进与保护力度、提高自主创新与研发能力,发挥环境试验设备企业在电能表与信息采集系统的优势,向技

  • 高低温试验房现货厂家

    发布时间:2020-03-09

    现在疫情期间,为了安全着想不给国家添乱,基本上每个人都是宅在家里,而且每户每家都是必备了口罩和体温计也就是额温枪,那么生产额温枪的厂家也需要做高低温测试吗?那是必需的,因小编也是发现近段时间很多生产额温枪企业在咨询高低温试验房是否有现货.那么像这种高低温试验房需要货期多少天呢?一般正常的货期是35~40天因高低温试验房是属于大型的非标设备是需要时间定制生产的,所以基本上是没有哪个厂家能有现货,而且生产的货期也是比较长,但我们艾思荔生产的周期是比较短的,只需要10天就可以交货,为什么呢?一、我司仓

  • 高压加速老化试验箱技术特点简述讨论

    发布时间:2020-01-07

    高压加速老化试验箱适用于各个橡胶行业,是橡胶制品不可或缺的设备。随着现代工艺的发展,橡胶和塑胶产品的应用日益广阔,所经受的环境条件也愈来愈复杂多样。高压加速老化试验箱有效延长寿命的方法:臭氧老化试验箱周围和底部的地面要随时保持清洁;当试验产品时间到达后取产品时,必须在关机状态下进行取放产品。开关门或从箱内取测试物时,不得让物品与门密封条接触;臭氧老化试验箱在操作前应先将内部杂质清除;实验室内每年至少清洁一次以上;电路断路器、超温保护器,提供本机测试品以及操作者的安全保护,故请定期检查,制冷系统是

  • hast非饱和型高压加速老化试验箱使用压力范围

    发布时间:2019-12-27

    hast非饱和型高压加速老化试验箱适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药、线路板,多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测,相关之产品作加速寿命试验,使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的耐厌性,气密性。测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。加速老化寿命试验的目

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