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PCT试验箱 高压加速老化

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PCT试验箱 高压加速老化测试其制品的耐厌性,气密性。测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。

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PCT试验箱 高压加速老化用途:

   PCT试验箱 高压加速老化(135-3846-9076熊s)又称高压加速老化试验箱,适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药、线路板,多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测,相关之产品作加速寿命试验,使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。

  测试其制品的耐厌性,气密性。测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间、

    试样限制本试验设备禁止:易燃、易爆、易挥发性物质试样的试验或储存。腐蚀性物质试样的试验或储存。强电磁发射源试样的试验或储存。

<strong><strong>PCT试验箱 高压加速老化</strong></strong>

PCT试验箱 高压加速老化的特点:

1、计时安装,LED数字型计时器,当锅内温度达到后计时器确保试验完全,计时从表格1驱动。

2Jing准的压力,温度表随时显示锅内压力与温度,Jing准压力+0、2~2、0kg/cm2、  

6、试验开始前使用真空泵抽真空,将机器原来的空气抽出并过滤与至新鲜空气一切完整开始试机。  

4、箱内经过抛光处理经久耐用、美观、不沾污。  

5、运转时流水自动排出未饱和蒸汽已达到饱和。  

6、异常原因及故障指示灯显示,设置自动保护LIMIT安全。

PCT试验箱 高压加速老化性能:

1、测试环境温度为+25℃、相对湿度≤85%、

2、 温度范围 105℃ → +132℃、 (控制点)

3、 温度波动度 ±0、5℃、

4、 温度偏差 ±2、0℃、

5、 湿度范围 75% ~ 100 %R、H 、 (控制点)

6、 湿度波动度 ±2、5 %R、H、

7、 湿度均匀度 ±5、0%、

8、 压力范围 0、5~2㎏/㎝2 (0、05~0、196 MPa) (控制点)

9、 升温时间 常温 → + 132℃ 35 min 、

10、 升压时间 常压 → + 2㎏/㎝2 40 min

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