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光纤pct高压加速老化试验箱

更新时间:2022-06-07

光纤pct高压加速老化试验箱广泛应用于线路板,多层线路板,IC半导体,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。

光纤pct高压加速老化试验箱用途:广泛应用于线路板,多层线路板,IC半导体,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。

光纤pct高压加速老化试验箱产品特点: 
△高压加速老化试验箱具有自动加水功能并且在试验过程中水位过低时自动补水,试验过程自动运转至完成结束,使用简便。
△温度控制:LED数字型温度控制器可作精确试验温度之设定、控制及显示。
△定时器:LED数字型定时器,当锅内温度到达后才开始计时以确保试验完全。
△精准的压力/温度表随时显示锅内压力与相对温度。
△运转时流水器自动排出未饱和蒸气以达到蒸气品质。
△一体成型硅胶门垫圈,气密度良好,且使用寿命长。
△高压加速老化试验箱内经抛光处理经久耐用美观不沾污。
※高压加速老化试验箱技术规格/性能: 
△型号PTC-25、内箱尺寸∮250×450D(mm) : 
△型号PTC-35、内箱尺寸∮350×500D(mm):  
△温度范围:RT 10℃—132℃ 
△湿度范围: 100% R。H 
△温度分布精度: ±1.5℃ 
△温度控制精度: ±0.5℃ 
△温度解析精度: 0.1℃ 
△内箱材质:采用SUS304耐寒耐热不锈钢板 
△外箱材质:采用SECC钢板, 静电喷塑处理。

光纤pct高压加速老化试验箱用途:国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、制药等行业相关之产品作加速寿命试验,使用于在产品的设计阶段,用于快速产品的缺陷和薄弱环节。

光纤pct高压加速老化试验箱技术参数
型 号:PCT-25 ,PCT-35 ,PCT-45
内箱尺寸(mm):Φ250×D400 ,Φ350×D500 ,Φ450×D600
外箱尺寸(mm):W560×H450×D850 ,W560×H450×D850 ,W560×H450×D850
温 度 范 围 :100℃~132℃
湿 度 范 围 :RH饱和蒸气
压 力 范 围 : 环境大气压 0~4kg/cm2
循 环 方 式 : 水蒸气自然对流循环
内箱材质:不 锈 钢 板 材 质 # SUS304 外箱材质:不 锈 钢 板 材 质 # SUS304
时间范围:0 ~ 999 Hr 加压时间:0.00 Kg ~ 2.00 Kg/cm2约 45 分钟

光纤pct高压加速老化试验箱技术规格:
△使用温度:121℃;132℃;(143℃特殊选用)
△使用湿度:100%RH饱和蒸气湿度
△使用蒸气压力(压力):1个环境大气压 0.0Kg/cm2 - 2.0Kg/cm2 ;(3.0Kg/cm2属于特殊规格)
△循环方式:水蒸气自然对流循环
△安全保护装置:缺水保护,超压保护、 (具有自动/手动补水功能,自动泻压功能)
6.配 件:不銹钢隔板两层
※测试温度时间参考表:
裸露物品:
(一)、试验温度: 121℃
1.试验时间: 5~20分钟
2.干燥时间: 2分钟
(二)、试验温度: 132℃
1.试验时间: 5~10分钟
2.干燥时间: 2分钟
薄布包装:
(一)、试验温度: 121℃
1.试验时间: 20~25分钟
2.干燥时间: 3分钟
(二)、试验温度: 132℃
1.试验时间: 10~15分钟
2.干燥时间: 3分钟
厚布包装:
(一)、试验温度: 121℃
1.试验时间: 25~30分钟
2.干燥时间: 5分钟
★以上试验时间仅供参考,随物品包装密度、材质及试验条件不同而有所调整。
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