半导体芯片高低温冲击测试设备
更新时间:2023-10-19
半导体芯片高低温冲击测试设备 壹叁伍 叁捌肆陆 玖零柒陆广泛运用于电子行业的高低温冲击测试,包括:PCB板、舰船、仪表、光电、通信通讯、LED半导体、电线电缆、电脑零部件、电工、电子、汽车配件、计算机、变压器、照明灯具、五金制品、连接器端子、电源电阻等产品。
半导体芯片高低温冲击测试设备 壹叁伍 叁捌肆陆 玖零柒陆广泛运用于电子行业的高低温冲击测试,包括:PCB板、舰船、仪表、光电、通信通讯、LED半导体、电线电缆、电脑零部件、电工、电子、汽车配件、计算机、变压器、照明灯具、五金制品、连接器端子、电源电阻等产品。 高低温冲击测试设备规格与型号: TS-49 内箱尺寸:400×350×350 外箱尺寸:1400×1800×1400 TS-80 内箱尺寸:500×400×400 外箱尺寸:1550×1950×1550 TS-150 内箱尺寸:600×500×500 外箱尺寸:1600×2000×1700 TS-252 内箱尺寸:700×600×600 外箱尺寸:1700×2100×1750 TS-450 内箱尺寸:800×750×750 外箱尺寸:1800×2200×1900 TS-900 内箱尺寸:1000×900×900 外箱尺寸:2100×2400×2200 高低温冲击测试设备箱体结构特点: 箱体采用数控机床加工成型,造型美观大方,并采用无反作用把手,操作简便。 箱体内胆采用进口不锈钢(SUS304)镜面板,箱体外胆采用A3钢板喷塑,增加了外观质感和洁净度。 大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮,且利用发热体内嵌式钢化玻璃,随时清晰的观测箱内状况。 箱体左侧配直径50mm的测试孔,可供外接测试电源线或信号线使用。 控制器: 温度控制采用全进口触摸按键式仪表,操作设定简单。 资料及试验条件输入后,控制器具有锁定功能,避免人为触摸而改变温度值。 具有P.I.D自动演算的功能,可将温度变化条件立即修正,使温度控制更为稳定。 电器控制主件采用进口元件,更好地控制温度。 高低温冲击测试设备制冷系统: 制冷机采用法国“泰康"全封闭压缩机。 进口干燥过滤器,进口油分离器,进口电磁阀。 冷冻系统采用单元或二元式低温回路系统设计。 采用多翼式送风机强力送风循环,避免任何死角,可使测试区域内温度分布均匀。 风路循环出风回风设计,风压、风速均符合测试标准,并可使开门瞬间温度回稳时间快。 升温、降温、系统可提高速率,降低测试成本,增长寿命,减低故障率。 半导体芯片高低温冲击测试设备厂家售后服务: 售前服务:产品销售前为客户免费提供技术方案,并可根据客户要求提供现场讲解和技术咨询服务。 售后服务:产品销售后派出人员为客户免费提供使用培训,现场指导产品的使用和维护。 质量保证:该产品进行三包,质保期为验收之日起壹年,在保质期内产品发生非人为质量问题,艾思荔公司为客户提供免费维修。 维修服务:我公司对所用产品提供终生维修服务。如产品在质保期外出现故障,维修服务只收取元器件费用。 |
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