半导体pct老化试验箱用途：测试其制品的耐厌性，气密性。测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。

连接器pct老化试验箱技术规格／性能： 1、型号PTC-25、内箱尺寸∮250×450D（mm）： 2、型号PTC-35、内箱尺寸∮350×500D（mm）： 3、温度范围：RT10℃—132℃ 4、湿度范围：100R、H 5、压力范围：0.0kg／㎝2～2.8kg／㎝2（相对压力，锅内压力），压力＝1.0kg／㎝2＋0.0kg／㎝2～3.0kg／㎝2（安

锂电池pct老化试验箱熊s技术要求： 1、温度范围 105℃ → +132℃. （控制点） 温度波动度 ±0.5℃. 2、温度偏差 ±2.0℃. 3、湿度范围 75% ～ 100 %R.H . （控制点） 4、湿度波动度 ±2.5 %R.H. 5、湿度均匀度 ±5.0%.

PCT饱和加速寿命试验箱熊s实验开始前之真空动作可将原来内箱之空气抽出，并吸入过滤器,过滤之新空气packing ＜1micom、以确保箱内之纯净度

艾思荔检测仪器专业生产塑料薄膜PCT加速老化试验箱（）的明星企业，生产历史长技术精。为国内多家测试设备厂所配套使用,建厂三十余年,备受好评,多次被评为“省优”产品。