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荧光膜厚计

  • 型   号:ts-80
  • 价   格:

荧光膜厚计采用中文视窗操作测量系统解析度0.001µm小测量面积0.1mmφ可测量合金层之厚度和组成比例

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荧光膜厚计特点:


中文视窗操作测量系统
解析度0.001um, 小测量面积0.1mmΦ
可测量合金层之厚度和组成比例
可测量两层以上镀层之个别厚度
藉由光谱分析可判定被测物之元素
适用对象:1C导线架,封装业、PCB业、精密零
件业、电镀业、电子业。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

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