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  • CPJ-3015Z系列全正像数字式测量投影仪是光、机、电一体化的精密高效测量仪器。影像与工件同向,简易直观。它广泛用于机械,仪表、电子、轻工等行业以及院校、研究所、计量检定部门。

  • CPJ—3000Z系列全正像数字式测量投影仪是光、机、电一体化的精密高效测量仪器。影像与工件同向,简易直观。它广泛用于机械,仪表、电子、轻工等行业以及院校、研究所、计量检定部门。

  • CPJ-3010系列反像型投影仪是光、机、电一体化的精密高效测量仪器。影像与工件同向,简易直观。它广泛用于机械,仪表、电子、轻工等行业以及院校、研究所、计量检定部门。

  • CPJ-3010系列反像型投影仪是光、机、电一体化的精密高效测量仪器。影像与工件同向,简易直观。它广泛用于机械,仪表、电子、轻工等行业以及院校、研究所、计量检定部门。

  • CPJ—3000Z系列全正像数字式测量投影仪是光、机、电一体化的精密高效测量仪器。影像与工件同向,简易直观。它广泛用于机械,仪表、电子、轻工等行业以及院校、研究所、计量检定部门。

  • CPJ—3000Z系列全正像数字式测量投影仪是光、机、电一体化的精密高效测量仪器。影像与工件同向,简易直观。它广泛用于机械,仪表、电子、轻工等行业以及院校、研究所、计量检定部门。

  • CPJ—3000Z系列全正像数字式测量投影仪是光、机、电一体化的精密高效测量仪器。影像与工件同向,简易直观。它广泛用于机械,仪表、电子、轻工等行业以及院校、研究所、计量检定部门。

  • 正像型测量投影仪系统品质优良,物镜成像清晰,放大倍率准确。在透射光照明下,轮廓测量误差小于O.08%仪器配有专用微型打印机和脚踏开关,数据输出和采样十分方便。仪器调焦由投影仪筒升降实现,行程大,稳定性好。工作台不升降,稳定性好,测量范围大,精度高。

  • 正像型测量投影仪仪器光学系统品质优良,物镜成像清晰,放大倍率准确。在透射光照明下,轮廓测量误差小于O.08%仪器配有专用微型打印机和脚踏开关,数据输出和采样十分方便。仪器调焦由投影仪筒升降实现,行程大,稳定性好。工作台不升降,稳定性好,测量范围大,精度高。

  • 反像型测量投影仪仪器光学系统品质优良,物镜成像清晰,放大倍率准确。在透射光照明下,轮廓测量误差小于O.08%仪器配有专用微型打印机和脚踏开关,数据输出和采样十分方便。仪器调焦由投影仪筒升降实现,行程大,稳定性好。工作台不升降,稳定性好,测量范围大,精度高。

  • 反像型测量投影仪仪器光学系统品质优良,物镜成像清晰,放大倍率准确。在透射光照明下,轮廓测量误差小于O.08%仪器配有专用微型打印机和脚踏开关,数据输出和采样十分方便。仪器调焦由投影仪筒升降实现,行程大,稳定性好。工作台不升降,稳定性好,测量范围大,精度高。

  • 正像投影仪仪器光学系统品质优良,物镜成像清晰,放大倍率准确。在透射光照明下,轮廓测量误差小于O.08%仪器配有专用微型打印机和脚踏开关,数据输出和采样十分方便。仪器调焦由投影仪筒升降实现,行程大,稳定性好。工作台不升降,稳定性好,测量范围大,精度高。

  • 系列测量投影仪仪器光学系统品质优良,物镜成像清晰,放大倍率准确。在透射光照明下,轮廓测量误差小于O.08%仪器配有专用微型打印机和脚踏开关,数据输出和采样十分方便。仪器调焦由投影仪筒升降实现,行程大,稳定性好。工作台不升降,稳定性好,测量范围大,精度高。

  • 二次元影像式测绘仪该仪器适用于以二坐标测量为目的的一切应用领域,在机械、电子、仪表、塑胶等行业被广泛使用。

  • 二次元影像式测绘仪该仪器适用于以二坐标测量为目的的一切应用领域,在机械、电子、仪表、塑胶等行业被广泛使用。

  • 二次元影像式测绘仪该仪器适用于以二坐标测量为目的的一切应用领域,在机械、电子、仪表、塑胶等行业被广泛使用。

  • 二次元影像式测绘仪该仪器适用于以二坐标测量为目的的一切应用领域,在机械、电子、仪表、塑胶等行业被广泛使用。

  • 二次元影像式测绘仪该仪器适用于以二坐标测量为目的的一切应用领域,在机械、电子、仪表、塑胶等行业被广泛使用。

  • 二次元影像式测量仪该仪器适用于以二坐标测量为目的的一切应用领域,在机械、电子、仪表、塑胶等行业被广泛使用。

  • 二次元影像式测绘仪该仪器适用于以二坐标测量为目的的一切应用领域,在机械、电子、仪表、塑胶等行业被广泛使用。

  • 三次元影像式测量仪仪器名称: 仪器名称:SOV-series 重现性:0.005mm 光栅尺解析力:0.001m 示值精度:4L/150um

  • 仪器名称:SOV-series

  • 仪器名称:SOV-series

  • 仪器名称:SOV-series

  • 仪器名称:SOV-series

  • D65标准太阳光源,色温65000K

  • D65标准太阳光源,色温65000K

  • 荧光膜厚计采用中文视窗操作测量系统解析度0.001µm小测量面积0.1mmφ可测量合金层之厚度和组成比例

  • 荧光X线膜厚计采用中文视窗操作测量系统解析度0.001µm小测量面积0.1mmφ可测量合金层之厚度和组成比例

  • 电镀膜厚仪采用中文视窗操作测量系统解析度0.001µm小测量面积0.1mmφ可测量合金层之厚度和组成比例

  • 荧光X线膜厚计采用中文视窗操作测量系统解析度0.001µm小测量面积0.1mmφ可测量合金层之厚度和组成比例

  • 荧光X线膜厚计采用中文视窗操作测量系统解析度0.001µm小测量面积0.1mmφ可测量合金层之厚度和组成比例

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