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  • ts-80荧光膜厚计
    ts-80荧光膜厚计

    荧光膜厚计采用中文视窗操作测量系统解析度0.001µm小测量面积0.1mmφ可测量合金层之厚度和组成比例

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    2025-10-25

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  • ts-80镀膜测试仪
    ts-80镀膜测试仪

    荧光X线膜厚计采用中文视窗操作测量系统解析度0.001µm小测量面积0.1mmφ可测量合金层之厚度和组成比例

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  • t-80电镀膜厚仪
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    电镀膜厚仪采用中文视窗操作测量系统解析度0.001µm小测量面积0.1mmφ可测量合金层之厚度和组成比例

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    ts-80镀层测试仪

    荧光X线膜厚计采用中文视窗操作测量系统解析度0.001µm小测量面积0.1mmφ可测量合金层之厚度和组成比例

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  • 荧光X线膜厚计
    荧光X线膜厚计

    荧光X线膜厚计采用中文视窗操作测量系统解析度0.001µm小测量面积0.1mmφ可测量合金层之厚度和组成比例

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