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  • 荧光膜厚计

    荧光膜厚计采用中文视窗操作测量系统解析度0.001µm小测量面积0.1mmφ可测量合金层之厚度和组成比例

  • 镀膜测试仪

    荧光X线膜厚计采用中文视窗操作测量系统解析度0.001µm小测量面积0.1mmφ可测量合金层之厚度和组成比例

  • 电镀膜厚仪

    电镀膜厚仪采用中文视窗操作测量系统解析度0.001µm小测量面积0.1mmφ可测量合金层之厚度和组成比例

  • 镀层测试仪

    荧光X线膜厚计采用中文视窗操作测量系统解析度0.001µm小测量面积0.1mmφ可测量合金层之厚度和组成比例

  • 荧光X线膜厚计

    荧光X线膜厚计采用中文视窗操作测量系统解析度0.001µm小测量面积0.1mmφ可测量合金层之厚度和组成比例

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