pct高压加速老化试验箱LED光源衰退的原因分析

更新时间：2016-06-02

浏览次数：835

　　pct高压加速老化试验箱LED光源衰退的原因分析
　　pct高压加速老化试验箱是测验半导体封装之湿气才能，待测商品被置于苛刻之温度、湿度及压力下测验，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口进入封装体，多见之毛病方法为自动金属化区域腐蚀形成之断路，或封装体引脚间因污染形成短路等。
　　LED具有低电压、低能耗、长寿数、高可靠性、易保护等长处,已变成照明职业的干流。尽管LED光源已逐渐替代别的光源变成照明职业的干流，但其寿数及其可靠性仍有待进步，这已变成现阶段的研讨要点。
　　LED光源可靠性一般采纳pct高压加速老化试验箱进行一个温度加速老化实验，在LED样品实验中跟着老化时刻的增加，会产生光衰退，而产生光阑珊的因素有荧光粉、硅胶以及芯片的衰减。