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Hast非饱和型老化试验箱的功能优势
发布时间:2021-06-21   点击次数:366次

  Hast非饱和型老化试验箱可做高温高湿高压、双85试验等测试,用于电子原器件,LED封装,芯片(IC)、集成电路、半导体等检测产品性能之用。

  【Hast非饱和型老化试验箱安全保护装置】

  艾思荔采用三道高温保护装置、温度用水断水保护与电热断水空焚保护、机台停机时自动排除饱和蒸气压力、气动机构压力保护等,完善的保护装置,保障实验室与操作人员安全。

Hast非饱和型老化试验箱的功能优势

  【Hast非饱和型老化试验箱设备质量性能】

  工艺技术品质好,耐磨性强,设备性能稳定,使用寿命可达20年。

  【Hast非饱和型老化试验箱新技术独特优势】

  优的温湿度jing密控制逻辑,防止待测品潮湿与结露的模式选择压力值采实际感应侦测,确保温度、湿度及压力值准确度。

  可选购多个BIAS电压端子:符合JESD22-A110之实验规范要求,模拟待测品在高温、高湿环境下,加载大式作电压,检测内部封装模块材料接合与保护层的渗透,并且观察是否造成迁移。

  【合作案例】济南半导体研究所、广州赛宝、北京航空航天大学、华为技术、中北大学、NEC电子、北京协同创新研究院、比艾奇、讯芯等等企业。

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