PCT老化试验箱主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。
PCT老化试验箱设备特点：
1.采用进口耐高温电磁阀双路结构，在很大程度上降低了使用故障率。
2.独立蒸汽发生室，避免蒸汽直接冲击产品，以免造成产品局部破坏。
3.门锁省力结构，解决第一代产品圆盘式手柄的锁紧困难的缺点。
4.试验前排冷空气；试验中排冷空气设计(试验桶内空气排出)提高压力稳定性、再现性.
5.超长效实验运转时间，长时间实验机台运转1000小时.
6.水位保护，透过试验室内水位Sensor检知保护.
7.耐压设计，箱体耐压力(140℃)2.65kg，符合水压测试6kg.
8.二段式压力安全保护装置，采两段式结合控制器与机械式压力保护装置.
9.安全保护排压钮，警急安全装置二段式自动排压钮
10.全触控式控制器，支持U盘导出历史记录
服务热线：0769-22851840
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更新时间：2023-03-17 
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