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PCT老化试验箱独立蒸汽发生室,能避免蒸汽直接冲击产品
更新时间:2023-03-17   点击次数:377次
  PCT老化试验箱主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。
  
  PCT老化试验箱设备特点:
  
  1.采用进口耐高温电磁阀双路结构,在很大程度上降低了使用故障率。
  
  2.独立蒸汽发生室,避免蒸汽直接冲击产品,以免造成产品局部破坏。
  
  3.门锁省力结构,解决第一代产品圆盘式手柄的锁紧困难的缺点。
  
  4.试验前排冷空气;试验中排冷空气设计(试验桶内空气排出)提高压力稳定性、再现性.
  
  5.超长效实验运转时间,长时间实验机台运转1000小时.
  
  6.水位保护,透过试验室内水位Sensor检知保护.
  
  7.耐压设计,箱体耐压力(140℃)2.65kg,符合水压测试6kg.
  
  8.二段式压力安全保护装置,采两段式结合控制器与机械式压力保护装置.
  
  9.安全保护排压钮,警急安全装置二段式自动排压钮
  
  10.全触控式控制器,支持U盘导出历史记录

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