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PCT-45高压加速老化试验箱出货济南半导体公司
更新时间:2021-05-25 点击次数:825次
PCT-45高压加速老化试验箱出货济南半导体公司
高压加速老化试验箱(又名PCT高压加速老化试验机)主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。内胆采用圆弧设计,符合国家安全容器标准,可以防止试验结露滴水现象,从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。