用于调查分析何时出现电子元器件,和机械零件的摩耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。
随着半导体可靠性的提高半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效,因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间,采用了最新的压力蒸煮锅试验方法。
HAST高压加速老化试验机的规范要求:
内胆采用圆弧设计,复合国家安全容器标准,可以防止试验结露滴水现象,从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。
配备双层不锈钢产品架,也可根据客户产品规格尺寸免费量身定制专用产品架。
标准配备8条试验样品信号施加端子,也可以根据需要增加端子数量。
具备特制的试样架免去繁杂的接线作业。
高压加速老化试验机安全保护装置:
误操作安全装置:高压加速老化试验机锅门若未关紧则机器无法启动。
超压安全保护:当锅内压力超过最大工作值自动排气泄压。
超温保护:当锅内温度过高时机器鸣叫警报并自动切断加热电源。
防烫伤保护:特制材质制成可防止操作人员接触烫伤。
手动安全保护排压伐。